CST-50 沖擊試驗缺口投影儀

概述：

CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是為檢查夏比V型或U型沖擊試樣缺口質(zhì)量而設(shè)計、開發(fā)的一種專用光學(xué)儀器，與刻在投影屏上的沖擊試樣缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖進行對比，以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格，對比直觀，操作簡單，效率高，是理化試驗室的必備專用設(shè)備。
技術(shù)參數(shù)：

投影屏： ￠200mm

放大倍數(shù)： 50X

光源： 12V 100W（鹵鎢燈）
電源： 220V 50Hz 150W
外型尺寸： 515×224×603mm
重量： 約18Kg